logo UKW

Baza Dorobku Naukowego Pracowników UKW




Zapytanie: SYLWISTY JAROSŁAW
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Pobierz BibTeX | Przesłanie wyników do modułu analizy | Nowe wyszukiwanie
1/1
Rok: 2001
Autorzy: Roman T. Rumianowski, Roman S. Dygdała, Wacław Bała, Jarosław Sylwisty
Tytuł: X-ray characterization of PbSe/Si layers grown by pulsed laser ablation method
W: International Conference on Solid State Crystals 2000: Epilayers and Heterostructures in Optoelectronics and Semiconductor Technology / ed. J. Rutkowski, J. Wenus, L. Kubiak.
Adres wydawniczy: Bellingham : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2001
Seria: Proceedings of The Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 0277-786X ; vol. 4413
Strony: 198-202
ISBN: 0-8194-4116-3
Charakt. formalna: RFZ
Język publikacji: ENG
Punktacja MNiSW: 6.000
Praca bez afiliacji UKW
Inne bazy podające opis: Web of Science Core Collection
DOI:
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka UKW